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热处理过程对HgCdTe光伏探测器性能的影响

来源:论文学术网
时间:2024-08-19 03:40:35
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热处理过程对HgCdTe光伏探测器性能的影响【摘要】:本文论述了HgCdTe光伏探测器的I-V特性和暗电流机制,讨论了离子注入后退火、钝化后烘烤、倒焊互联后退火等热处理过程对HgC

【摘要】:本文论述了HgCdTe光伏探测器的I-V特性和暗电流机制,讨论了离子注入后退火、钝化后烘烤、倒焊互联后退火等热处理过程对HgCdTe光伏探测器性能的影响。 【作者单位】: 中国科学院上海技术物理研究所 中国科学院上海技术物理研究所
【关键词】HgCdTe光伏探测器 退火 烘烤
【分类号】:TN36
【正文快照】: IHgcdTe光伏探测器的I-v特性和 暗电流机制 p一n结的卜v特性(见图l)决定了光电探测 器的动态阻抗和热噪声. HgCdTe光伏器件的暗电流机制主要包括扩 散电流、产生一复合电流、间接隧道电流和直接 隧道电流. 在许多实际应用中,光电二极管工作在零 偏压附近.零偏压时的动态阻抗

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