后处理工艺对CuInS_2薄膜及太阳能电池的光电性能的影响
后处理工艺对CuInS_2薄膜及太阳能电池的光电性能的影响【摘要】:Cu In S2是一种重要的三元I-III-VI2族化合物直接带隙半导体材料,禁带宽度为1.5e V,与太阳能电
【学位授予单位】:上海大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2015
【分类号】:TM914.4
【目录】:
- 摘要6-8
- ABSTRACT8-13
- 第一章 绪论13-25
- 1.1 研究背景13
- 1.2 太阳能电池的工作原理13-14
- 1.3 太阳能电池的分类14-18
- 1.3.1 硅系太阳能电池15-16
- 1.3.2 染料敏化纳米晶太阳能电池16
- 1.3.3 多元化合物薄膜太阳能电池16-18
- 1.4 CuInS_2 太阳电池简介18-23
- 1.4.1 CuInS_2 材料的性质18-20
- 1.4.2 CuInS_2 薄膜的制备方法20-23
- 1.4.3 CuInS_2 电池的发展历程23
- 1.5 论文的研究目的、意义和内容23-25
- 第二章 CuInS_2薄膜以及器件的实验方法和表征测试介绍25-35
- 2.1 CuInS_2 薄膜的制备以及后处理工艺25-27
- 2.1.1 衬底的处理25
- 2.1.2 CuInS_2 薄膜的制备25-27
- 2.1.3 CuInS_2 薄膜的后处理27
- 2.2 CuInS_2 薄膜太阳能电池的设计与制备27-29
- 2.2.1 Mo薄膜背接触层28
- 2.2.2 CuInS_2 薄膜吸收层28
- 2.2.3 CdS缓冲层28
- 2.2.4 i-ZnO/ZnO(Al) 窗口层28-29
- 2.3 表征、测试设备介绍29-35
- 2.3.1 X射线衍射仪29-30
- 2.3.2 扫描电子显微镜分析30
- 2.3.3 能谱分析30-31
- 2.3.4 紫外-可见分光光度计31
- 2.3.5 拉曼光谱仪31-32
- 2.3.6 台阶仪32
- 2.3.7 霍尔效应测试系统32-33
- 2.3.8 原子力显微镜33-35
- 第三章 CuInS_2薄膜的表征与研究35-49
- 3.1 CuInS_2 薄膜的退火处理35-36
- 3.1.1 XRD分析35-36
- 3.1.2 CuInS_2 薄膜的Raman分析36
- 3.2 CuInS_2 薄膜的等离子刻蚀36-41
- 3.2.1 XRD分析36-37
- 3.2.2 形貌分析37-38
- 3.2.3 紫外可见吸收光谱分析38-40
- 3.2.4 电学性能分析40-41
- 3.3 CuInS_2 薄膜的溴甲醇腐蚀41-47
- 3.3.1 XRD分析41-42
- 3.3.2 形貌及成分分析42-44
- 3.3.3 原子力显微镜44-45
- 3.3.4 紫外可见吸收光谱分析45-47
- 3.3.5 电学性能分析47
- 3.4 本章小结47-49
- 第四章 CuInS_2太阳能电池各层薄膜的表征与研究49-59
- 4.1 背电极Mo层的分析49-51
- 4.1.1 XRD分析49-50
- 4.1.2 AFM分析50-51
- 4.1.3 紫外可见吸收光谱分析51
- 4.1.4 电学性能分析51
- 4.2 缓冲层CdS层的分析51-53
- 4.2.1 XRD分析51-52
- 4.2.2 拉曼光谱分析52-53
- 4.3 窗口层ZnO层的分析53-57
- 4.3.1 XRD分析53-54
- 4.3.2 紫外可见光谱分析54-55
- 4.3.3 AFM测试55-57
- 4.3.4 电学性能分析57
- 4.4 CuInS_2 太阳能电池性能57-58
- 4.5 本章小结58-59
- 第五章 结论与展望59-62
- 5.1 结论59-60
- 5.2 展望60-62
- 参考文献62-67
- 作者在攻读硕士学位期间公开发表的论文67-68
- 作者在攻读硕士学位期间所作的项目68-69
- 致谢69
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