甲烷在多孔硅表面物理吸附特征研究(英文)

【摘要】：在密度泛函理论耦合超软贋势第一性原理的平台上,研究了甲烷在Si(111)表面的物理吸附特性.通过建立硅晶胞的不同吸附位置(top、bridge、fcc)模型,对比分析了甲烷在相应位置吸附界面变化的键结构、吸附能和态密度,获得了相应吸附点的吸附特征.对比分析的结果表明,甲烷只有在fcc位置物理吸附状态较为理想.分析态密度、键长及键角等数据揭示fcc位甲烷吸附对体系硅晶胞有很大的影响,其体系的键能最低,即此时体系结构最稳定.本文所得研究成果可用于Si表面对甲烷气体的敏感性分析及气体传感器领域. 【作者单位】： 西安科技大学理学院;
【关键词】： 甲烷 硅表面 物理吸附 密度泛函理论
【基金】：中国博士后特别资助(201003678) 陕西省教育厅科学专项基金项目(12JK0965)
【分类号】：O485
【正文快照】： 1 IntroductionPhysical adsorption mechanism of methaneon the porous Si surfaces has been sustainableknowledge for the field of chemical industry,en-vironmental protection and mine safety.It cangive physical and chemical characteristics of sur-face pore s

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